Överspänningstestning är en metod för att testa den transienta spänningen eller strömmen i en krets eller enhet.
Vid utformning och tillverkning av chips uppstår ofta olika elektromagnetiska störningar såsom överspänningar och andra oväntade händelser. Dessa händelser kan skada kretsstrukturen inuti chippet, vilket gör att chippet går sönder eller fungerar instabilt.
Orsakerna till strömstyrka?
1. Byte av strömförsörjning och plötsliga spänningsförändringar
När strömmen växlar, på grund av urladdningen av den momentana kondensatorn, kommer en kort spänningsökning att inträffa i kretsen, vilket resulterar i en kort ökning av strömmen, vilket kommer att orsaka ett överspänningsfenomen. I kraftsystemet kan plötsliga spänningsförändringar orsakade av stark blixt också leda till att överspänningar genereras.
2. Transient process av kraftutrustning
När elektrisk utrustning startar, stannar eller går, kommer det att ske en kort spänningsökning, och omkopplingen av mekaniska omkopplare kan också orsaka generering av överspänningsströmmar.
3. Kortslutningsfel
När det finns ett kortslutningsfel i kretsen, oavsett om det är i ett lågspänningsdistributionsnät eller en högspänningsledning, kommer det att orsaka en omedelbar ökning av strömmen, vilket mestadels är överspänningsström.
Överspänningsströmmar kan orsaka betydande skador på kretsar och elektroniska enheter, inklusive enhetsskador, kortslutningar, etc. När en stor mängd överspänningsström flyter genom en krets kommer det att orsaka tillfällig laddningsackumulering och urladdning och generera höga spänningstoppar, vilket orsakar stora skador på de elektroniska enheterna.
Överspänningstestningkan upptäcka om chippet kan motstå överspänningsstörningar, såsom ström, spänning, tid och andra parametrar, för att avgöra om den testade produkten kan fungera normalt.
När vi utför överspänningstestning måste vi använda professionella mätinstrument som överspänningsgeneratorer, differentialsonder, strömslingor och andra instrumentenheter. Operatörer måste strikt följa användningsspecifikationerna och testprocedurerna för testinstrumenten för att säkerställa noggrannheten och tillförlitligheten hos testdata.
EMCOSIN överspänningsgeneratorer
Överspänningstestning och testmetoder
1. Förbered överspänningsgeneratorer, differentialsonder, strömslingor, oscilloskop, nätaggregat och andra instrumentenheter. Tillför spänning och ström till chippet genom strömförsörjningen, och oscilloskopet testar överspänningsström vid utgången av chipet.
2. Specificera testplanen och exekvera den. Före testning bör en detaljerad testplan tas fram, inklusive relevanta parametrar som testspänning, testtid och testfrekvens. Efter att testplanen är klar kan testningen påbörjas.
3. Dataanalys och bearbetning. Efter att testningen är klar krävs dataanalys och bearbetning av testresultaten för att bestämma chipets förmåga att motstå överspänningar och hur man kan förbättra dess stabilitet och tillförlitlighet.
För företag som tillverkar elektroniska produkter är det nödvändigt att strikt följa testprocessen och relevanta standarder för att säkerställa noggrannheten och tillförlitligheten hos testresultaten.
EMCSOSIN har engagerat sig i EMC-testområdet, specialiserade på att tillhandahålla EMC-testinstrument, produktkorrigering och utbildningsservice. Vår egenutvecklade EMC-utrustning inklusive: ESD-simulator, EFT/burstgenerator, överspänningsgenerator, spänningsfallsgenerator, kraftfrekvensmagnetfältgenerator, dämpad oscillerande våggenerator, bilpulssimulator etc. EMCSOSIN förser även kunder med professionella EMC-systemintegrationslösningar. Tveka inte att kontakta oss för mer information. Tack!
